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镀层测厚仪EDX600 PLUS
  • 产品名称:镀层测厚仪EDX600 PLUS
  • 产品型号:EDX600PLUS
  • 所属类别:镀层测厚仪器 > 镀层测厚仪
  • 发布时间:2023-02-21
  • 已获点击:373
详细说明

EDX-600 Plus镀层测厚仪

>高计数率硅漂移检测器 (SDD) 可实现快速,无损,高精度测量

>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

背景介绍

镀层测厚仪EDX-600 Plus

膜厚仪EDX-600 Plus产品特点

>测试快速,无需样品制备

>备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时需的标准样品

>SDD检测器,具有高计数范围和*的能量分辨率

膜厚仪EDX-600 Plus应用场景

镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量,金属电镀镀层分析;

>可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度

>钢上锌等防腐涂层

>插头和电触点的接触面

>分析电子和半导体行业的功能涂层

>可拓展增加RoHS有害元素分析功能,电镀液离子浓度分析

技术参数

仪器外观尺寸: 560mm*380mm*410mm

大样品腔:460mm*310mm*95mm

仪器重量: 40Kg

元素分析范围:Mg12-U92镁到铀,可同时分析并测量24种元素

可分析含量范围:1ppm- 99.99%

涂镀层*低检出限:0.005μm,可同时分析5层以上镀层

成分分析含量范围:5ppm-99.99%

探测器:AmpTek 高分辨率电制冷SDD Detector

多道分析器: 4096道DPP analyzer

X光管:50W高功率微聚焦光管

准直器:Φ0.15mm,Φ0.2mm,Φ0.3mm,可选配0.1*0.2mm

高压发生装置:电压*输出50kV,自带电压过载保护

电压:220ACV 50/60HZ

样品平台:手动高精度移动平台

样品对焦:手动测距对焦

环境温度:-10 °C 到35 °C

膜厚仪EDX-600Plus可分析的常见镀层材料

可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

Cr/Fe, Ni/Fe等

Au/Ni/Cu等

合金成分应用:如NiP/Fe, 同时分析镍磷含量和镀层厚度


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