镀层测厚仪用于金属镀层厚度测定、电镀液和镀层含量测定。主要用于贵金属加工和珠宝加工行业的银行、珠宝销售和检查机构的电镀行业。配置清单。开放式样品室。高精度二维移动样品平台，探测器和x光管上下移动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin电冷却半导体探测器。信号检测电子电路。高低压电源。x光管。高度传感器。保护传感器计算机和喷墨打印机。XRF镀层厚度计的性能特征。
满足各种厚度样品和不规则表面样品的测试需求。φ0.1mm的小孔准直器可满足小测试点的需要。高精度移动平台可定位试点，重复定位精度小于0.005mm。采用高度定位激光，可自动定位测试高度。定位激光确定定位光点，确保测试点与光点对齐。鼠标可以控制移动平台，鼠标点击的位置是测量点。高分辨率探针使分析结果更加准确。良好的射线屏蔽作用。测试口高度敏感传感器保护。XRF镀层厚度计的型号和技术参数。型号:Thick800A。元素分析范围从硫(S)到铀(U)。同时可分析30种以上要素，5层镀层。分析含量般为ppm至99.9%。镀层厚度般在50μm以内(因材料而异)任意多的多种分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。变量非线性回收程序。温度适应范围为15℃至30℃。电源:交流220V±5V，建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸:576(W)×495(D)×545(H)mm。样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H)mm。
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