XRF荧光谱仪(XRF)是种能够快速同时测量多元素的新型仪器。在x光的刺激下，测量元素原子的内层电子发生了能源跳跃，发生了二x光(即x荧光)。波长和能量是从不同角度观察描述x光采用的两种物理量。
波长色分散型XRF荧光分光器(WD-XRF)是用晶体分光后，由探测器接收衍生出来的特光信号。分光晶体和探测器同步运动，不断改变衍射角，样品内各种元素所产生的特x光线的波长和各波长x光线的强度。可根据此进行定性分析和定量分析。波长色散型X光荧光谱仪产生于上世纪50年代，可同时测量复杂的系统，因此备受关注，特别是在地质部门，配置该仪器，分析速度显著提高，发挥着重要作用。产品介绍。EDX4500H-XRF荧光谱仪是利用XRF检测原理快速、准确、无损地分析各种要素成分。该仪器的主要特点是利用智能真空系统，可分析Si、P、S、Al、Mg等轻量元素，利用XRF技术可分析高含量Cr、Ni、Mo等重点元素，在冶炼过程控制中测试时间短，大大提高了测试效率和工作效率。此外，合金分析、全要素分析、有害要素检测的应用也非常广泛。
性能特征。高效超薄窗X光管，指标达到水平。新的数字多技术使测试更快，计算率达到10000CPS，更高。合金检测效果更好。SDD硅漂移探测器具有良好的能量线性、能量分辨率和可谱性，高峰背比。低能X射线刺激需要测量要素，对Si、P等轻要素刺激效果好。智能抽真空系统，屏蔽空气影响，大大扩大测试范围。自动稳定装置保证了仪器工作的致性。高信噪比的电子线路单元。不同样品自动切换准直器和过滤器，避免手动操作带来的麻烦。解谱技术分解谱峰，对被测元素的测试结果进行相等分析。多参数线性回归方法明显抑制了元素之间的吸收、增强效果。内置高清相机。液晶拼接屏显示屏关键参数（管压、管流、真空度）目了然。技术参数。产品型号：EDX4500H。产品名称：X荧光光谱仪。测量元素范围：钠（Na）至铀（U）同时分析元素：性能测量几十种元素。测量时间：30-200。探测器的能量分辨率为145±5eV。管压：5KV-50KV。管流：50μA-1000μA。测量对象状态：粉末、固体、液体。输入电压：AC110V/220V。环境温度：15℃-30℃。环境湿度：35%-70%样腔体积：320mm×100mm。外形尺寸：660mm×510mm×350mm。重量：65kg。标准配置。高效超薄窗x光管。SDD硅漂移探测器。数字的多种技术。光路强化系统。高信噪比电子线路单元。内置高清相机。自动切换型准直器和过滤器。自动稳定装置。三重安全保护模式。可靠的整体钢结构。90mm×70mm状态显示液晶拼接屏。真空泵。应用域。XRF荧光谱仪合金检测，全要素分析，有害要素检测（RoHS，卤）厂家介绍。江苏天瑞仪器股份有限公司生产ROHS测试仪、液相色谱仪(LCMS)、原子荧光光光谱仪、X射线厚度计、手持式ROHS光谱仪、ROHS测试设备、X射线镀层厚度计、气相色谱仪、EDX1800B、ROHS测试仪、先ROHS测试仪、先ROHS测试仪厂家、ICP光谱仪、液相色谱仪、EDX1800E、ROHS2.0新增4种分析仪、EDX2800、手持式矿石分析仪、双酚测试仪、X射线荧光谱仪、大米重金属快速测试仪、液相色谱仪、EDXX1800E、ROX、2800等。
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