X射线镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。X射线荧光测试仪，可在微小样品上测量镀层厚度(包括金层测厚、银层测厚和化金厚度等)和进行材料分析 。
用途广泛的镀层厚度测量仪，包括金层测厚、银层测厚和化金厚度等。
通过组合可选的高压和滤片，可以对较薄的镀层（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和较厚的镀层进行同样效果的测量.
配有的微聚焦管，可以测量100 μm大小的微小测量点。
比例计数器可实现数千cps（每秒计数率）的高计数率。
从下至上的射线方向，从而可以快速简便的放置样品。
底部C型开槽的大容量测量舱 。
测量线路板工业中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的镀层
电子行业中接插件和触点上的镀层
装饰性镀层Cr/Ni/Cu/ABS
电镀镀层，如大规模生产零件（螺栓和螺母）上的防腐蚀保护层Zn/Fe，ZnNi/Fe
珠宝和钟表工业。
测量电镀液中金属成分含量，例如金层测厚、银层测厚。
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