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金镍厚检测仪Thick800A,天瑞仪器
  • 产品名称:金镍厚检测仪Thick800A,天瑞仪器
  • 产品型号:Thick800A
  • 所属类别:镀层测厚仪器 > 镀层测厚仪
  • 发布时间:2017-11-21
  • 已获点击:610
详细说明

金镍厚检测仪Thick800A_天瑞仪器生产销售

仪器介绍

Thick800A金镍厚检测仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

 

Thick800A高全自动膜厚仪仪器配置 

1    硬件:主机壹台,含下列主要部件: (1)   X光管                 (2) 半导体探测器(3) 放大电路                (4) 高样品移动平台(5) 高清晰摄像头            (6) 高压系统(7) 上照、开放式样品腔      (8)双激光定位(9) 玻璃屏蔽罩2   软件:天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.03   计算机、打印机各一台计算机(品牌,P4,液晶显示屏)、打印机(佳能,彩色喷墨打印机)4   资料:使用说明书(包括软件操作说明书和硬件使用说明书)、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。 

Thick800A高全自动金镍厚检测仪膜厚仪参数规格

1.分析元素范围:硫(S)~铀(U); 

2.同时检测元素:最多24个元素,多达5层镀层;
3.分析含量:一般为2ppm到99.9%;
4.镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同);
5.SDD探测器:分辨率低至135eV;
6.先进的微孔准直技术:孔径达0.1mm,光斑达0.1mm;
7.样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头; 
8.准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合; 
9.仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm;
10.样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm;
11.样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm;
12.X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s;
13.X/Y/Z平台重复定位:小于0.1um;
性能特点1.精密的三维移动平台; 
2.卓越的样品观测系统; 
3.先进的图像识别; 
4.轻松实现深槽样品的检测; 
5.四种微孔聚焦准直器,自动切换; 
6.双重保护措施,实现无缝防撞; 
7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试。

安装要求:1   环境温度要求:15℃-30℃2   环境相对湿度:<70%3   工作电源:交流220±5V4   周围不能有强电磁干扰。

质量保证、技术服务

1 仪器进行终身维修;2 软件升级:如有软件升级,乙方将提供软件升级,不再收取升级费用;3 保修条款3.1乙方对本合同销售仪器设备自验收合格之日起保修1年;3.2保修期结束后,乙方为甲方提供维修服务的资费标准如下:交通费、住宿费由甲方承担;资费标准:硬件成本费用——按乙方时价计算硬件运输费——实报实销服务费——300元 / 人 / 天人员交通费——实报实销人员住宿费用——¥300元/天4         技术服务的响应期限:提供最有效的技术服务,在接到用户故障信息后,4小时内响应;如有必要,12~72个小时内派人上门维修和排除故障。

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