EDX4500系列设备的真空测量室能够通过 X 射线荧光分析 (RFA) 检测原子序数从Na（11）开始的轻元素。由于空气会吸收轻元素的荧光X射线，因此在大气环境中通常无法使用该方法。因此，该仪器非常适合对要求严苛的镀层厚度进行测量和材料分析。
检出限低、重复高，以及测量适用性广，因此特别适用于研究和开发使用
配备真空测量室和高性能硅漂移探测器，能够实现测量，尤其是对轻元素的测试
通过可编程 X、Y 和 Z 轴进行自动测试
准直器和滤波器可切换，因此可适用于各种材料和测试条件
原子序数从Na（11）开始的轻元素镀层，可测量厚度低至纳米级
铝镀层和硅镀层
测定宝石的真伪与原产地
常规材料分析和取证
高分辨率痕量分析
江苏天瑞仪器股份有限公司生产镀层测厚仪，ROHS检测仪，气相色谱质谱联用仪，电感耦合等离子体发射光谱仪,ROHS分析仪，X射线镀层测厚仪，气相色谱仪，ROHS测量仪，液相色谱仪，ROHS2.0分析仪，XRF合金分析仪，X荧光光谱仪，汽油中硅含量检测仪， ROHS检测仪器，手持式合金分析仪等，涉及的仪器设备主要有EDX1800B,Thick800A，GCMS6800，ICP2060T,，ICPMS2000等。
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