天瑞镀层测厚仪Thick800A介绍
镀层测厚仪THICK800A用于镀层行业的一款XRF膜厚测试仪器，设备关系到产品的质量以及生产成本，（例如：镀层厚度超过了电镀的标准，尤其对贵金属银、金等，将会大大提产品的成本，从而失去市场竞争力），天瑞仪器生产的THICK800A无损荧光镀层测厚仪配备移动平台，可全自动软件操作，并进行多点测试，检测结果更加精准，实现“傻瓜”式操作。
X射线测厚仪Thick800A优点：
1、快速检测，检测一个点的厚度仅需要几秒到几十秒
2、无损，无需要破坏样品，直接经过X射线照射，就可得出镀层厚度数据
3、便捷，对样品没有特殊要求，基本无需对样品进行处理
4、仪器外观选用独特的流线型设计，时尚雅致。
5、同时分析元素周期表中由硫(S)到铀（U）。
6、可以分析最多5层镀层，可分析元素多达24种。
7、无需复杂的样品预处理过程，无损测试。
8、检出限可达到2ppm。
9、分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm 。
10、采用美国原装、国际先进的探测器，能量分辨率高。
X射线镀层测厚仪Thick800A是天瑞仪器在Thick 680的基础上研发生产的一代镀层测厚仪。新仪器在硬件、软件上都有很大的改进，运用型的上照式设计，配备先进的Si-Pin半导体探测器，软件上加入了无标样FP法的，使仪器在镀层行业的运用上更广泛了。而且天瑞仪器更是从美国采购了全套的电镀镀层标样，能够满足电镀和表面处理厂家几乎所有的镀层厚度的测量。同时仪器还可以分析电镀液及镀层成分的分析。
镀层测厚仪Thick 800A特点：
该仪器专门针对电镀及表面处理行业中的镀层厚度测量、膜厚检测、镀层元素分析和电镀液的成分分析。
1、上照式，X射线光线从上方照射到检测样品上，对样品的形状没有要求，可以满足不规则样品的测试需求，而且更适合测量硅晶片等不适合接触测量台的样品；
2、狭缝（准直器），主要是限制X射线的照射面积，可以调节X射线的尺寸，以满足各种尺寸样品的测试需求。仪器可以提供4种准直器，分别是0.1mm、0.2mm、0.3mm、0.5mm四种，直径达0.1mm，可以轻松实现精小部位的测试，同时可根据测试需求电动切换准直器，根据样品的大小，选择合适的准直器，得到足够的激发强度，使测量更加准确；
3、样品测试平台，仪器可分为手动移动平台和高的可编程的自动移动平台，重复定位的小于0.005mm；
4、辅助光斑定位测量，简便快捷的激光样品定位系统，可自动定位测试高度，并能保证测试点和光斑重合；
5、视频摄像头，配备高视频摄像头，样品放入样品腔，可以实时观测样品，同时鼠标可控制移动平台，保证鼠标点击的位置就是被测点；
6、高分辨率探测器，运用先进的SI-Pin探测器，能量分辨率远好于比例接收器，适合测量多层镀层及干扰比较大的镀层成分，使测量结果更加准确；
7、良好的射线屏蔽作用，保证X射线，只有在铅玻璃保证罩完全关闭时，X射线才会开启，保护操作人员不会受到辐射的危险。
8、简单易操作的X射线镀层测厚仪软件一套，每款X射线仪器都需要配置功能强大的软件，由天瑞仪器自主创新设计的镀层测试软件，易操作便于应用，自动化程度高，真正可以做到一键操作。
镀层测厚仪Thick 800A技术参数：
1. 元素分析范围从硫(S)到铀(U)；
2. 元素含量分析范围为1PPm到99.99%；
3. 测量时间：30-60秒(可调)；
4. 同时分析镀层层数：最多可达5层
5. 镀层检测厚度：0.005-50μm(视材料类型而有所不同)
6. 能量分辨率为129±5e电子伏特；
7. 温度适应范围为15℃至30℃；
镀层测厚仪Thick 800A标准配置：
分析测试镀层软件V1.0
Si－Pin半导体探测器
铅玻璃屏蔽罩
进口大功率X光管
超大开放式的样品腔
双激光定位装置，高度传感器，保护传感器
进口高低压电源
品牌电脑（联想）及打印机（佳能）
镀层测厚仪Thick 800A应用领域：
1、PCB板行业，镀金镀镍镀铜、镀锡镀铜等镀层厚度测量；
2、装饰性镀层镀铬、镀铜、镀镍等镀层厚度测量；
3、紧固件螺丝及螺母防腐镀层测量，如铁镀锌、铁镀镍镀锌等镀层厚度测量；
4、电子行业接插件和触点的测量；
5、电子元器件，二极管、圆晶镀层测量，如铜镀锡、镀银，圆晶镀银、镀硅的厚度测量；
6、电镀和表面处理企业的电镀镀层测量
镀层测厚仪主要针对金属镀层（镀金，镀镍，镀锡，镀锌，镀铜，镀银，镀铑，镀钯等）厚度测试，广泛应用于线路板、五金工具，汽车配件，电子连接器，高压开关，卫浴等企业中，得到了客户的广泛应用和认可。
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