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X荧光镀层测厚仪器_天瑞仪器
  • 产品名称:X荧光镀层测厚仪器_天瑞仪器
  • 产品型号:Thick800A
  • 所属类别:镀层测厚仪器 > X荧光镀层测厚仪
  • 发布时间:2017-06-01
  • 已获点击:661
详细说明

X荧光镀层测厚仪器_江苏天瑞仪器股份有限公司


Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,能够有效检测PCB镀金厚度,电镀厂镀镍镀铬厚度分析,五金镀锌测厚,铜镀银厚度分析等,仪器具有以下优点:

快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量要求。

方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。

无损:测试前后,样品无任何形式的变化。

直观:实时谱图,可直观显示元素含量。

测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。

可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。

满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。

性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。

对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便,在镀层行业中可谓大展身手。

软件图片:

 

 

技术指标

元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析检出限可达2ppm,最薄可测试0.005μm。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

配置

Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

应用:

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;

银行,首饰销售和检测机构;

电镀行业。

 

镀层测厚仪厂家介绍

江苏天瑞仪器股份有限公司是的X荧光镀层测厚仪生产企业, 产品打破了国外垄断局面,在行业内销量,分析仪器上市公司。

公司是生产X荧光测厚仪,气相色谱质谱仪(GCMS),五金镀层测厚仪,x射线测厚仪,ROHS检测仪,手持式ROHS光谱仪,手持式合金分析仪,ROHS检测设备,电镀层测厚仪,五金镀层测量仪,天瑞ROHS仪,X射线镀层测厚仪。天瑞仪器成立于1992 年,以研究、生产、销售XRF荧光光谱仪起步,目前从事以光谱仪、色谱仪、质谱仪为主的高端分析仪器及应用软件的研发、生产、销售和相关技术服务,是国内上市的分析仪器企业。

江苏天瑞仪器股份有限公司镀层测厚仪展厅


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